详细说明
MVP系列全自动影像测量仪
仪器特性：
●自动变焦系统，避免镜头倍率变换后的校正;
●几何公差计算，量测数据可输出WORD、EXCEL、或SPC统计报表输出，并且
具有DXF输入离线编程功能;
●提供影像直接寻像工具，可快速寻边，快速去除有毛边或瑕疵的影像，正确
取得量测数据;
●形位公差功能：位置度，直线度，平行度，倾斜度，垂直度，对称度，平面
度，真圆度，同心度，同轴度;
●不用再要专门为自动检测建立一个教导程序，就所刚刚所测量的步骤软件可
以记录下来，只要点击按钮，即可生成自动步骤的自检程序。
技术参数：
|
机器型号
|
MVP320E
|
MVP430E
|
MVP760E
|
MVP1210E
|
MVP1512E
|
|
量测行程X/Y/Zmm
|
300 X 200 X 200
|
400 X 300 X 200
|
620 X 720 X 200
|
1000 X 1200 X 200
|
1200 X 1500 X 200
|
|
外观尺寸W/L/H mm
|
835 X 920 X 1210
|
935 X 1020 X 1210
|
1350 X 1750 X 1970
|
1800 X 2410 X 1970
|
2010 X 3290 X 1970
|
|
机器重量
|
120KG
|
150KG
|
1150KG
|
2550KG
|
4150KG
|
|
机台承重
|
25KG
|
25KG
|
100KG
|
100KG
|
100KG
|
|
运动控制
|
日本Panasonic AC伺服马达 (可选安川)，三轴 / 四轴全自动，鼠标+摇杆控制
|
|
测量精度
|
XY轴:E2=(2.8+L/200)μm; Z轴:E1=(5+L/200)μm
|
|
重复精度
|
XY轴:≤3μm;Z轴:≤5μm
|
|
最大速度
|
XY轴:350mm/s; Z轴:200mm/s
|
|
光源系统
|
表面光：五环八区四十项程控式LED冷光源;轮廓光：程控式LED平行冷光源，256级可调
|
|
软件及输出格式
|
2.0 版影像测量软件(包含SPC模块);输出格式：Word、Excel、DXF、SPC
|
|
整体机构
|
高精度00级花岗岩测量底座平台及主体
|
|
光学系统
|
美国全自动变焦镜头模组
|
|
放大倍率
|
光学放大倍率：0.7-4.5X;影像放大倍率：22-145X（可选配0.5X、2X物镜）可增加或降低倍数
|
|
影像系统
|
工业专用高分辨率美国TEO彩色600线高清CCD
|
|
编码器
|
英国RENISHAW开放式光栅尺，分辨率0.5μm
|
|
导 轨
|
XY轴：瑞士SCHNEEBERGER导轨;Z轴：日本THK导轨
|
|
对焦方式
|
自动对焦，自动变倍
|
|
计算机
|
双核2.0处理器，2GB内存，512MB独立显卡，160GB硬盘，17寸标屏LCD显示器
|
|
电源
|
(220±5)V;(50-60)HZ;10A
|
|
温湿度/振动
|
(20±3)℃; 35%-65%;振动<0.002g,低于15Hz
|
